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基于Halcon的太阳能硅片缺陷检测技术研究

作 者: 来自:2019年第3期"机器视觉" 阅读 1816

 

基于Halcon的太阳能硅片缺陷检测技术研究

Research on Solar Wafer Defect Detection Technology based on Halcon

齐鲁工业大学(山东省科学院)电气工程与自动化学院段华伟Duan Huawei

要:针对太阳能硅片生产过程中碎片率增加的问题,同时为了有效避免太阳能电池对相关工艺造成的影响,需要使用机器视觉系统进行有效的缺陷检测,因此,提出了基于Halcon图像处理的太阳能硅片表面缺陷系统的总体设计方案,介绍了太阳能硅片检测系统的主要组成部分、图像处理的关键算法以及实施此项技术的好处。

词:太阳能硅片   Halcon   机器视觉

Abstract:In view of the problem of increasing the fragmentation rate in the production process of solar wafers, and in order to effectively avoid th

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